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產品分類
Product classification
醫用器具材料中重金屬元素含量檢測儀$n對于重金屬元素含量的測試，通常認可的分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X熒光光譜（XRF）（只能定性半定量）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS），光譜法。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析（但對國內用戶而言，儀器成本高，只有在要求特別高的情況下使用）
醫療器械重金屬含量檢測儀$n醫療器械重金屬含量化驗機器集中于ppm與百分比（％）顯示，光譜或峰強度（計數率）或用戶定的單位。$n檢測醫療器械重金屬含量儀器設備儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感。$n真正實現在現場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
金屬材質檢測儀器設備$n金屬材質檢測儀儀器體積小，方便維護和實驗室放置。是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器。
半導體材料中高精度元素成分含量檢測儀 常用的設備有電感耦合等離子體光譜儀（ICP-OES）和X射線熒光光譜儀（XRF）。ICP-OES靈敏度高，可檢測ppb級雜質，適合痕量及超痕量金屬分析，如高純硅材料中的Fe、Cu等；XRF則具有非破壞性檢測優勢，樣品無需溶解，可快速篩查硅片表面金屬污染物，如Fe、Cu，及分析濺射薄膜成分與厚度。兩者結合可全面滿足半導體材料檢測需求。
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