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產(chǎn)品分類
Product classification醫(yī)用器具材料中重金屬元素含量檢測儀$n對于重金屬元素含量的測試,通常認可的分析方法有:紫外可分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子熒光法(AFS)、電感耦合等離子體法(ICP)、X熒光光譜(XRF)(只能定性半定量)、電感耦合等離子質譜法(ICP-MS),光譜法。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法(ICP-MS)分析(但對國內(nèi)用戶而言,儀器成本高,只有在要求特別高的情況下使用)
醫(yī)療器械重金屬含量檢測儀$n醫(yī)療器械重金屬含量化驗機器集中于ppm與百分比(%)顯示,光譜或峰強度(計數(shù)率)或用戶定的單位。$n檢測醫(yī)療器械重金屬含量儀器設備儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,一鍵式按鈕設計,即使長時間操作也無疲勞感。$n真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
金屬材質檢測儀器設備$n金屬材質檢測儀儀器體積小,方便維護和實驗室放置。是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器。
半導體材料中高精度元素成分含量檢測儀 常用的設備有電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)和X射線熒光光譜儀(XRF)。ICP-OES靈敏度高,可檢測ppb級雜質,適合痕量及超痕量金屬分析,如高純硅材料中的Fe、Cu等;XRF則具有非破壞性檢測優(yōu)勢,樣品無需溶解,可快速篩查硅片表面金屬污染物,如Fe、Cu,及分析濺射薄膜成分與厚度。兩者結合可全面滿足半導體材料檢測需求。
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