
韓國電鍍膜厚檢測儀精度高 我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)等等
韓國ISP鍍層厚度分析儀 單層厚度范圍: 金鍍層0-8um, 鉻鍍層0-15um, 其余一般為0-30um以內, 可最小測量達0.001um。
電鍍鍍層X光譜分析儀器 本儀器產品特點: 采用了Si-Pin探測器,性能穩定,重復性和重現性好。 在客戶遠端請求下,我司技術人員可以遠程協助用戶解決常見操作問題(需連接因特網)。 可進行多達5層的多鍍層檢測。